Технология производства ЭВМ
Можно выделить четыре класса дефектов, возникающих на этапе эксплуатации ЭВМ.
1. Дефекты типов «замыкание» и «обрыв электрической цепи», порождающие неисправности временного характера (перемежающиеся отказы). Дефект типа «замыкание» присутствует в микросхеме в виде контакта металлизацией или кремнием по порам в изолирующих пленках. Непостоянство контакта объясняется тем что увеличение токов замыкания до нескольких миллиампер приводит к разрушению контакта током, т. е. к устранению замыкания. Дефект типа «обрыв электрической цепи» существует в виде контакта, образующегося за счет канала пробоя в тонкой пленке диэлектрика. Потенциалы пробоя мест таких «обрывов» электрической цепи сравнимы с рабочими напряжениями в схемах, а незначительные токи вызывают местное разрушение пленки и заваривание контакта, т. е. устранение обрыва. В результате самопроизвольного возникновения и устранения дефекта типа «замыкание» или «обрыв» микросхема может многократно переходить из неработоспособного в работоспособное состояние при поиске места неисправности в аппаратуре, поэтому неисправности, порожденные такими дефектами, наиболее трудно поддаются обнаружению, классификации и локализации.
2. Дефекты, внесенные в комплектующие изделия ЭВМ при их изготовлении, так называемые «дефекты поставщика», порождающие неисправности микросхем и других изделий полупроводниковой электроники. Механизмы образования «дефектов поставщика» весьма разнообразны и связаны с недостатком технологии производства микроэлектронных элементов.
Tags: компьютер